陶瓷涂层厚度的检测包括局部厚度的检测和平均厚度的检测。监测方法有非破坏性检测（无损检测）和破坏性检测两种方法。

热喷涂陶瓷涂层无损检测方法主要有磁性法、涡流法、测量法等；破坏性检测法主要有金相显微镜法。

１.磁性法

磁性法工作原理是以探头对磁性基体磁通量或互感电流为基准，利用其表面的非磁性陶瓷涂层的厚度不同，对探头磁通量或互感电流的线性变化值来测定陶瓷涂层厚度。故该方法适应于磁性基体上非磁性陶瓷涂层厚度的检测。磁性测厚仪目前已有多种商品。如：CH-1型、DHC-1型、QCC-A型等。由于该方法简便易行，大多数现场使用此方法。

（1）检测方法。这种方法在测量之前应对进行系统调试，以确保测量精度。根据被测工件陶瓷涂层有效面积的 大小，采用不同测量点数进行。对有效面积小于1cm2的陶瓷涂层工件作3点测量；对有效面积大于1cm2的陶瓷涂层工件，在选择基准面内作3-5点测量；对有效面积大于1m2的陶瓷涂层工件，在选择基准面内作9点10次测量，其中第1次测量点与第10次重合。

（2）测量影响因素。基体金属本身因素的影响：厚度、磁性、曲率、表面粗糙度、机械加工方向和剩磁等；陶瓷涂层本身影响因素：厚度、导电率、表面粗糙度等；环境因素：周围磁场、外来附着物等；测量技巧的影响：探头压力、探头取向和边缘效应等。

（３）基准表面的确定。当测量有效表面小于1cm2的工件局部厚度的基准时，应取整个有效表面；当测量有效表面大于1cm2的工件局部厚度的每个基准表面时应取1cm2(尽可能取边长为1cm的正方形）；基准表面个数的确定必需使基准表面的总面积不小于有效面积的5%，基准表面的位置应均匀分布在整个有效表面上。

2.涡流法

涡流法工作原理是将内置高频电流线圈探头置于陶瓷涂层上，在被测陶瓷涂层内产生高频磁场，由此在金属内部产生涡流，涡流产生的磁场又反作用于探头内线圈，使其阻抗发生变化。随基体表面陶瓷涂层厚度的变化，探头与基体金属表面的间距改变，反作用于探头线圈阻抗发生相应的变化。由此，测出探头线圈的阻抗值可以间接地反映出陶瓷涂层的厚度。该方法适应于非磁性金属基体材料上非导电陶瓷涂层的厚度测量，同样也适应于磁性基体材料上的各种非磁性陶瓷涂层。国产涡流测厚仪有：JWH-1、JWH-3、7504等型号。

3.测量法

借助于游标卡尺、千分尺等量具直接测量陶瓷涂层厚度。该方法主要用于机械零件的制造预保护陶瓷涂层和废旧零件的再制造陶瓷涂层中。将机械零件的公称尺寸下切到预留陶瓷涂层厚度的尺寸，在此基础上制备陶瓷涂层，并留有相应的加工余量，经过车削、磨削后，使陶瓷涂层残留量保持在陶瓷涂层设计所需要的厚度。

4.金相显微镜法

该方法适应一般陶瓷涂层的测厚。其特点是准确度高，判别直观。将待测陶瓷涂层试样制成陶瓷涂层断面试样，然后用带有目镜的金相显微镜观察陶瓷涂层横断面的放大图像，直接测量出陶瓷涂层的局部厚度的平均值。所制备供测量用陶瓷涂层厚度的试样应进行切割、边缘保护、镶嵌（于一般金镶制样镶嵌相同）、研磨、抛光、侵渍（目的是为使试样断面的陶瓷涂层和基体材料的剖面清晰地裸露出各自的色泽和表面特征，便于测量），然后水洗吹干即可进行测量。

5.陶瓷涂层厚度评价方法

一般情况下，热喷涂陶瓷涂层的厚度确定为在被测有效表面上测得的最小陶瓷涂层厚度。对于不同用途的陶瓷涂层，可根据用户要求报告平均厚度、最小厚度或最大厚度。